新闻中心

蔡司三坐标探针的优势

发布日期：2021-05-28 14:33:19

 　　从目前的状态来看，接触探针和光学探针之间的关系主要是互补的，而不是竞争的。接触探针和光学探针可以通过哪些方式互补?这一点需要从光学探头的类型开始。三维光学探头具有不同的分类，例如点光源，线光源和面光源。不同的探针在其应用场景中具有显着差异。

　　我们将光学探头的应用大致分为两类：表面数字化和三维测量。有些人忍不住要问：表面数字化和3D测量是一回事吗?实际上，区分这两个应用程序的关键是是否生成数字表面模型(Digital Surface Model)，这就是我们通常所说的点云或三角形网格。

　　当然，在许多实际应用中，生成的数字表面模型也将用于表面或特征元素的测量，但是这种测量模式基于数字零件模型，这与传统的直接测量特征元素根本不同。

　　

 

　　对于表面数字化，目的是获得零件的表面轮廓，这需要轮廓的大量空间点坐标。对于接触式探头，逐点采集方法不能满足数百万个点的要求。即使连续扫描探针，拾取点的速度也会以探针不离开零件表面的方式增加。从本质上讲，它仍然是单点集合。在这种类型的应用中，线光源和面光源探针弥补了接触探针的缺点。线扫描探针可以通过从工件表面上的多个点移动激光来扫描区域。

　　探针使用一组编码的栅格一次获得特定大小区域中的点云。在获得数字表面模型之后，用户可以将数据用于各种目的，例如与CAD模型进行比较，获得零件的整体/局部轮廓的偏差，三维尺寸测量或逆向工程等。 ，将这种测量方法用于尺寸和行为公差测量时，通常无法满足测量过程的要求(例如建立测量标准，选择元素拟合方法，选择评估参考等)。但是，某些零件的确需要非接触式测量，这是因为它们具有特殊的特性，例如柔软的材料，不允许接触的表面和小的特征，或者由于测量效率的要求。

　　对于这种类型的应用，点光源探头也可以弥补接触探头的缺点。实际上，光学探针比接触探针具有另一个优势。测头采集点时，测头记录测头中心的空间坐标，然后根据测头的半径进行补偿，得到实际点的坐标。

　　但是，在特定位置测量三维曲线时，如果不按照测量点的法线方向进行测量，则会存在半径补偿余弦误差;如果按照测量点的法线方向进行测量，则会生成实际的测量点位置。有偏差。在测量涡轮叶片时，这种情况尤其常见。